Kun Shan University Institutional Repository:Item 987654321/1296
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    题名: 原子力顯微鏡操作技術之探討
    The study Atomic Force Microscopy of operation technology
    作者: 賴信良
    張睿中
    卓佑霖
    劉昆錠
    潘柏融
    陳建佑
    王俊元
    蔡勝仁
    吳承翰
    关键词: 原子力顯微鏡,
    Atmoic Force Microscope
    日期: 2006-06-22
    上传时间: 2009-08-06 10:21:13 (UTC+8)
    摘要: 本文主旨在探討原子力顯微鏡操作之技術,因為此項技術的精確性非常容易受到外來環境因素的影響,因此我們除了學會如何使用這個儀器外,還進行許多次的實驗,針對儀器在實驗中途所出現的問題,找出原因並改善它,以提升此儀器的精確度。
    显示于类别:[機械工程系所] 學生專題

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